紙箱承壓性能測(cè)試儀適用于瓦楞紙箱、蜂窩板箱等包裝件進(jìn)行耐壓(最大壓潰力)、形變、堆碼試驗(yàn)，紙箱承壓性能測(cè)試儀采用英特爾中央處理器控制試驗(yàn)過(guò)程、全數(shù)字電路、專業(yè)測(cè)控軟件支持；試驗(yàn)功能強(qiáng)大，紙箱承壓性能測(cè)試儀可進(jìn)行定壓力測(cè)形變、定形變測(cè)抗壓力、最大壓潰力及堆碼試驗(yàn)四種試驗(yàn)，完全滿足了紙箱的各項(xiàng)測(cè)試要求。紙箱承壓性能測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)量 程：15kN測(cè)試精度：1級(jí)力值分辨率：1daN形變分辨率：0.1mm試驗(yàn)速度：5、10、12.7mm/min試驗(yàn)空間：1(L)m×1(B)m×1.3(H)m了解詳情請(qǐng)致電：濟(jì)南蘭光0531-85068566