手提式熒光測金儀簡介和技術參數 （周艷13682384615） 設備先由X熒光光譜儀測量樣品表面層的成分和各元素的含量，由此數據計算出含有該成分的均勻合金的密度。再經密度測試儀裝置測得樣品的真實密度與計算出的均勻合金密度相比較，判斷樣品是真實合金還是僅外層包裹有貴金屬的合金 詳細參數： 攝像頭：高清晰攝像定位系統(tǒng)，工作可靠，效率高 分析范圍：1%～99.99% 測量時間：自適應 測量精度：±0.1% X射線源：Mo靶的X射線光管 集成工業(yè)計算機，無需外接電腦；帶門鎖電鎖，使日常管理更便捷； 探測器：固定式半導體封氣正比計數器 高壓器：4～50Kv 分析：多通道模擬 軟件：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算 鍍層測量：鍍層厚度范圍<30um 溫度：15～30℃ 電壓：100～127V或220～240V,50/60Hz 最大功率：120W 重量：27公斤 尺寸：500*500*400mm 操作系統(tǒng)：Windows2000/Me/XP