顆粒的zeta電位與體系的分散穩(wěn)定性密切相關，zeta電位是顆粒體系的重要表征。流行的zeta電位測量采用動態(tài)光散射技術，但是這種方法在應用上受到極大限制，首先一旦顆粒大于1微米產生定向運動，就超出了該技術的適用范圍；其次必須對樣品進行稀釋至顆粒濃度1000ppm以下。而大多數樣品一經稀釋狀態(tài)即已經變化，所測數據不能代表原始狀態(tài)。微米顆粒的zeta電位測定是使許多學者頭痛的問題，現在有了最新的測量手段。 在PittCon2010上，美國康塔儀器公司推出圖像法實時zeta電位分析儀ZetaReader，使上述難題迎刃而解。這種方法基于準確可靠的計算機技術，采用高分辨紫外成像方法，可直接觀察到納米級顆粒，因此無需復雜的相關器，節(jié)約了儀器空間。這種技術容易操作，直接照像取樣，無論顆粒是否團聚，均可分析顆粒單體。樣品可裝入任何容器，因此可在線使用。