技術(shù)參數(shù) GD-Profiler系列包括2種型號，全部裝備RF射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預(yù)算。GD-Profiler2可測試多種樣品，有著極寬廣的應(yīng)用范圍，GD-ProfilerHR是目前商品化的輝光光譜儀中性能最高的。*RF射頻發(fā)生器-標(biāo)準(zhǔn)配置，符合E級標(biāo)準(zhǔn)，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩(wěn)定時(shí)間極短，表面信息無任何失真。*脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導(dǎo)性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。*多道(同時(shí))型光學(xué)系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠(yuǎn)紫外，可分析C,H,O,N,Cl*HORIBAJobinYvon的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有最大光通量，因而有最高的光效率和靈敏度*專利HDD 檢測器可進(jìn)行快速而高靈敏的檢測，動態(tài)范圍達(dá)到10個量級*寬大的樣品室方便各類樣品的加載*功能強(qiáng)大的QUANTUMTXP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測報(bào)告*激光指點(diǎn)器(CenterLitelaserpointer，專利申請中)可用于精確加載樣品*HORIBAJobinYvon獨(dú)有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時(shí)測定N+1個元素 主要特點(diǎn) HORIBAJobinYvon所生產(chǎn)的輝光放電發(fā)射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進(jìn)行導(dǎo)體和非導(dǎo)體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。GDS是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達(dá)幾百微米，深度分辨率可精確至原子層。HORIBAJobinYvon所生產(chǎn)的輝光放電光譜儀(GD)全部采用專利技術(shù)的HDD(HighDynamicrangeDetection)檢測器，可以實(shí)時(shí)、自動優(yōu)化工作參數(shù)，在靈敏度和動態(tài)范圍不受任何損失的情況下，一個分析通道就能完全滿足同一元素在不同層面內(nèi)微量和主量的測定。