顯微熔點(diǎn)測定儀（高溫型）定做型號:SGB2-XR4貨號:m313040XR4顯微熔點(diǎn)測定儀（高溫型）廣泛應(yīng)用于醫(yī)藥、化工、紡織、橡膠等方面的生產(chǎn)化驗(yàn)、檢驗(yàn)；高等院校化學(xué)系等部門對單晶或共晶等有機(jī)物質(zhì)的分析；工程材料和固體物理的研究；觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化等物理變化的過程提供了有利的熔點(diǎn)測定裝置。放大倍數(shù)6.5X-45X工作距離100mm視場范圍30.77-4.44mm測溫范圍室溫-300℃-400℃測量精度 1℃測試量≯0.1mg顯示方式四位LED數(shù)碼管傳感器分度號PT-100電源AC220V50Hz使用環(huán)境溫度0-40℃濕度 85%主要配置體視顯微鏡主機(jī)10X目鏡程序自動(dòng)控溫系統(tǒng)熔點(diǎn)測定熱臺(tái)0-300℃-500℃溫度傳感器防霧玻璃取物金屬鑷子散熱器電源線（三芯）合格證、保修卡使用說明書顯微熔點(diǎn)測定儀（高溫型）定做SGB2-XR4