測量原理 雷達物位計天線發(fā)射極窄的微波脈沖，這個脈沖以光速在空間傳播，碰到被測介質(zhì)表面，其部分能量被反射回來，被同一天線接收。發(fā)射脈沖與接收脈沖的時間間隔與天線到被測介質(zhì)表面的距離成正比。特點由于采用了先進的微處理器和獨特的SED回波處理技術(shù)，雷達物位計可以應(yīng)用于各種復(fù)雜工況。 虛假回波學(xué)習(xí) 功能使得儀表在多個虛假回波的工況下，可正確地確認真實回波，獲得準確的測量結(jié)果。多種過程連接方式及天線型式，使得RDPX系列雷達物位計適于各種復(fù)雜工況及應(yīng)用場合。如：高溫、高壓及小介電常數(shù)介質(zhì)的測量等。采用脈沖工作方式，雷達物位計發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容內(nèi)，對人體及環(huán)境均無傷害。