SZT-5硅材料復合測試儀 一,概述;SZT-5硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的1，二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導體材料。通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進行修整，例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 方塊電阻 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。SZT－5數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。2，整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別 本儀器工作環(huán)境條件為： 　　溫　　度：18℃―25℃ 相對濕度：50%－70% 工作室內(nèi)應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。二，技術(shù)參數(shù)1,測量范圍（1）電阻率測量： 電阻率 0.01-200 -cm方塊電阻 0.01-200 -口電 阻 0.01-200.0 2,數(shù)字電壓表 (1)量 程: 200mV單一量程 (2)誤 差: 讀數(shù) 0.2% 3字(3)輸入電阻: 10M 3,恒流源 (1)電流輸出 0~10mA連續(xù)可調(diào) (2)量 程 1mA,10mA (3)誤 差 0.2% 3字,4,手持式四探針測試頭(a)探 針 間 距:: 1mm (b)探針機械游移率: 1.0% (c)探 針 材 料: 碳化鎢, 0.(d)壓力: 最大2Kg（2）導電類型判別：可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于 重摻 。