AT5112PTC電阻測(cè)試儀 AT5112是針對(duì)熱敏電阻的雙路測(cè)試儀，內(nèi)置2路電阻測(cè)試電路，可同時(shí)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)PTC和被測(cè)PTC進(jìn)行測(cè)試得出差值并換算成實(shí)際值，忽略PTC的自身溫度敏感特性，達(dá)到精確測(cè)試，測(cè)試誤差小于0.1Ω，準(zhǔn)確度0.1%。采樣微處理器控制的AT5112可實(shí)現(xiàn)不開蓋校準(zhǔn)，其最高測(cè)試速度高達(dá)50次/秒，無(wú)論是人工測(cè)試或是自動(dòng)化測(cè)試都應(yīng)付自如。 技術(shù)規(guī)格●測(cè)試準(zhǔn)確度：0.3%●測(cè)試范圍：0~100Ω●測(cè)試電流：1mA●雙路同時(shí)測(cè)試：標(biāo)準(zhǔn)件和被測(cè)件同時(shí)檢測(cè)性能特征●內(nèi)置比較器設(shè)置●可選Handler接口應(yīng)用●PTC熱敏電阻的測(cè)試