456膜厚儀 英國易高 適用于各種金屬基體的涂層測量，性能優(yōu)越，經(jīng)濟實用，極具特色* 基本型操作簡單，經(jīng)濟耐用；標(biāo)準(zhǔn)型具數(shù)據(jù)輸出功能，可連接計算機進行數(shù)據(jù)處理和打印；高級型，功能更趨完善。度身設(shè)計配合不 同應(yīng)用。* 整體探頭可直接入在涂層上讀數(shù)，簡單易用，有鐵基、非鐵基、二合一標(biāo)準(zhǔn)式控頭可供選擇。* 分離式探頭有標(biāo)準(zhǔn)式、直角式及伸縮式設(shè)計，其中標(biāo)準(zhǔn)式、直角式探頭適用于各種金屬基體的平面、曲面深層測量，有鐵基、、非鐵 基三合一標(biāo)準(zhǔn)式及直角式探頭可供選擇；伸縮式探頭適用于鋼鐵基體圓形工件的涂層測量，只有鐵基探頭可供選擇。* 測量范圍0~1500um，分辯率0.1um(0-20um)/1um(20um以上)，精確度： 3%或2.5um（參考有關(guān)產(chǎn)品詳細說明書）。* 配PINIPTM可于整體式探頭上直接插用分離式探頭。* 456為2001年elcometer最新型號，人性化設(shè)計，外型流暢，易于把握。