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低水平、輻射表面污染檢測(cè)儀,、檢測(cè)儀

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規(guī) 格: 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 
單 價(jià): 面議 
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供貨總量: 99999
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 北京
有效期至: 長(zhǎng)期有效
更新日期: 2010-09-21 18:13
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【低水平、輻射表面污染檢測(cè)儀,、檢測(cè)儀】詳細(xì)說(shuō)明
JB4040型 、 檢測(cè)儀 JB4040型 、 檢測(cè)儀,適用于低水平 、 輻射表面污染檢測(cè),同時(shí)也適用與X、 輻射劑量率的監(jiān)測(cè)。儀器采用進(jìn)口蓋革探測(cè)器,具有較高的探測(cè)效率;是環(huán)境實(shí)驗(yàn)室、核醫(yī)學(xué)、分子生物學(xué)、放射化學(xué)、核原料運(yùn)輸、儲(chǔ)存和商檢等領(lǐng)域進(jìn)行 , 輻射表面污染檢測(cè)或X, 輻射防護(hù)監(jiān)測(cè)的理想儀器,該儀器采用單片機(jī)控制,LCD液晶顯示,讀數(shù)清晰、操作方便。
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