CCD平面度檢測(cè)儀【芯片平面度檢測(cè)系統(tǒng)描述】芯片CCD平面度檢測(cè)儀專門(mén)用于檢測(cè)各種IC芯片針腳及其平面度（水平直線度、共面度）、間隙、針腳寬度等。系統(tǒng)在檢測(cè)標(biāo)定平面度時(shí)能達(dá)到0.01mm以上的精度?？筛鶕?jù)檢測(cè)要求設(shè)定平面度誤差范圍。芯片平面度檢測(cè)系統(tǒng)軟件運(yùn)行界面圖如下： 【芯片平面度檢測(cè)系統(tǒng)主要功能】&#61607檢測(cè)芯片針腳的個(gè)數(shù)；&#61607可測(cè)量芯片針腳的多個(gè)位置的幾何尺寸，包括pitch間隔、寬度、高度等；&#61607檢測(cè)針腳的共線度等平面度指標(biāo)；&#61607系統(tǒng)檢測(cè)到質(zhì)量問(wèn)題時(shí)，能發(fā)出報(bào)警信號(hào)，并輸出控制信號(hào)；&#61607可對(duì)檢查出的所有廢品對(duì)應(yīng)的圖像能夠存儲(chǔ)和查看；&#61607系統(tǒng)有自學(xué)習(xí)功能，且學(xué)習(xí)過(guò)程操作簡(jiǎn)單；&#61607系統(tǒng)可通過(guò)RS232接口或以太網(wǎng)接收上位機(jī)控制信號(hào)?！拘酒矫娑葯z測(cè)系統(tǒng)主要技術(shù)特點(diǎn)】 &#61607操作界面清晰明了，簡(jiǎn)單易行，只需簡(jiǎn)單設(shè)定即可自動(dòng)執(zhí)行檢測(cè)；&#61607檢測(cè)軟件及算法完全自主開(kāi)發(fā)，采用亞像素技術(shù)實(shí)現(xiàn)超高的檢測(cè)精度；&#61607檢測(cè)精度達(dá)到0.01mm以上；&#61607可靈活設(shè)置模板查找、平均灰度值檢測(cè)等多種檢測(cè)算法；&#61607可選擇局部掃描功能，提高檢測(cè)速度；&#61607專業(yè)化光源設(shè)計(jì)，成像清晰均勻，確保不形成光斑；&#61607支持多種IC產(chǎn)品的檢測(cè)、具備產(chǎn)品在線自動(dòng)搜索等功能；&#61607安裝簡(jiǎn)單，不影響原生產(chǎn)線工作；結(jié)構(gòu)緊湊，易于操作、維護(hù)和擴(kuò)充；&#61607可靠性高，運(yùn)行穩(wěn)定，適合各種現(xiàn)場(chǎng)運(yùn)行條件。&#61607基于PC平臺(tái)，系統(tǒng)可擴(kuò)充性強(qiáng)，基于EF-VS機(jī)器視覺(jué)軟件平臺(tái)可擴(kuò)展管腳測(cè)量等功能，也可外接SPC軟件。平面度檢測(cè)系統(tǒng)示例軟件運(yùn)行界面：1、檢測(cè)芯片的管腳數(shù)、管腳間距、管腳高度 2、檢測(cè)芯片的管腳間距、高度、數(shù)目，連接器的夾角、中心節(jié)距、平面度工件的外緣、內(nèi)緣、質(zhì)心等