．測(cè)試頻率：12Hz~200kHz,ContinuouslyVariableFrequencies．0.1%高量測(cè)準(zhǔn)確度．100組設(shè)定條件記憶儲(chǔ)存、呼出功能．R/Q,C/D,C/R,L/Q,Z/ ,L/R測(cè)試模式．絕對(duì)值,差異值( ),差異百分比( %)顯示．240x128大型LCD顯示幕．測(cè)試條件及測(cè)試結(jié)果同時(shí)顯示在熒幕上．內(nèi)建RS-232C介面(含LCR-Viewer控制軟體)測(cè)試頻率12Hz~200kHz(504steps)基本準(zhǔn)確度0.1%測(cè)試電壓5mV~1.275V(5mV/step)直流位準(zhǔn)外部2V內(nèi)部0~35V顯示范圍 串/并聯(lián)等效阻抗R0.00001 ~99999k 電容C0.00001pF~99999uF電感L0.00001mH~99999H品質(zhì)因素Q0.0001~9999散逸因素D0.0001~9999阻抗|Z|0.00001 ~99999k 相位(Degree) -180.00 ~180.00 量測(cè)模式R/Q,C/D,C/R,L/Q,Z/ ,L/R等效電路具串聯(lián)與并聯(lián)兩種方式可供選擇記憶體100組平均測(cè)試值1~255次量測(cè)速度SLOW,MEDIUM以及FAST