剪切電子散斑干涉術是一種測量離面位移導數(shù)(derivative)場的激光干涉測量新技術。它除了電子散斑干涉術(electronicspecklepatterninterferometry)的許多優(yōu)點外，還有光路(opticalpath)簡單，對測量環(huán)境要求低等特點。由于剪切電子散斑干涉是測量位移導數(shù)，因此，在自動消除剛體(rigidbody)位移的同時對于缺陷受載的應變集中十分靈敏，因此被廣泛地應用于無損檢測（NDT,nondestructivetesting）領域。該儀器使用大功率綠色半導體激光器作光源，具有電子散斑條紋實時處理軟件，操作方便，便于攜帶，可用于現(xiàn)場測量。采用相移技術分析條紋，可獲得離面位移導數(shù)場的全場數(shù)據(jù)。 ★光源：半導體激光器，功率50mW，波長532nm★定焦鏡頭：AF尼克爾50mmf11.8D★ 相機：1394數(shù)字攝像頭 ★ 剪切量：連續(xù)可調★軟件：條紋實時顯示，相移處理★演示試件：圓形測試座加載架?！锕ぷ骶嚯x：400～1200mm★尺寸：182mm（長） 88mm（寬） 329mm（高）